SD2000系列晶振测试系统

SD2000系列晶振测试系统

详细说明

主要特点

由微机、射频开关和高分辨率计数器组成自动测试系统

可用于晶振老化测试和温度测试，自动完成老化漂移、稳定度、准确度、日波动等参数的测量

通过射频开关的组合，可组成64-N路测试矩阵

自动记录储存测试数据，自动形成测试曲线

主要技术指标

频率范围：DC～100MHz

隔离度：120dB(5MHz); 90dB (100MHz)